韩国一大学对一家美国3D智能传感器公司提起了专利侵权诉讼。

12月4日，成均馆大学（SKKU）在美国加利福尼亚州北区联邦地区法院对LMI Technologies公司提起诉讼。

该诉讼涉及美国注册号为7957639的专利。专利名称为“3D相机结构光线最佳曝光量控制方法和系统”，于2011年6月在美国专利商标局（USPTO）注册。

SKKU是此项专利的所有人。

SKKU在诉讼中称，LMI Technologies公司的HDI100系列和HDI高级产品侵犯了它的专利。

这些产品装有能够从真实物品中拍摄数字3D扫描的3D扫描器。需要“复杂”3D测量的“工业计量应用”的制造商、研究实验室以及学术机构会用到这些产品。

SKKU请求法院判决禁令救济，采用陪审团审判，并要求被告向其支付损害赔偿、诉讼费和判决前后利息。

来自Ni, Wang and Massand律所的SKKU的代理律师倪浩（Hao Ni）告诉《世界知识产权评论》（WIPR）称，律所尚不能代表该校对未决诉讼发表评论。(编译自worldipreview.com)